Technology Licensing Office

	ดาวน์โหลดเอกสาร
	นักวิจัย ดร.นพดล นันทวงศ์ ดร.พิทักษ์ เอี่ยมชัย
	หน่วยงาน กลุ่มวิจัยอุปกรณ์สเปกโทรสโกปีและเซนเซอร์ ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ (NECTEC)
	รูปแบบความร่วมมือที่เสนอ เสาะหาผู้รับอนุญาตใช้สิทธิ
	สถานภาพทรัพย์สินทางปัญญา • คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1001000190 ยื่นคำขอวันที่ 5 กุมภาพันธ์ 2553 • คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1201001692 ยื่นคำขอวันที่ 12 เมษายน 2555 • คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1201002682 ยื่นคำขอวันที่ 7 มิถุนายน 2555 • คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1301005400 ยื่นคำขอวันที่ 26 กันยายน 2556 • คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1301005227 ยื่นคำขอวันที่ 19 กันยายน 2556 • คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1501003965 ยื่นคำขอวันที่ 10 กรกฎาคม 2558 • คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1501003964 ยื่นคำขอวันที่ 10 กรกฎาคม 2558 • คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1503001194 ยื่นคำขอวันที่ 7 สิงหาคม 2558
	สถานะงานวิจัย ได้ต้นแบบระดับ pilot scale (TRL6)

ที่มา ข้อมูลเบื้องต้น ความสำคัญของปัญหา
ปัจจุบันเทคนิคการตรวจวัดเอกลักษณ์ของสารเคมีด้วยเทคนิคตรวจวัดสัญญาณรามาน ได้รับความนิยมเพิ่มมากขึ้นเรื่อย ๆ เนื่องจากความก้าวหน้าของเทคโนโลยีแหล่งกำเนิดแสงเลเซอร์แบบ solid-state ส่งผลให้เครื่องตรวจวัดมีราคาลดลง พร้อมทั้งยังมีขนาดที่เล็กลงและยังให้ประสิทธิภาพที่สูงขึ้นอีกด้วย ทำให้มีความนิยมนำเอาระบบตรวจวัดสัญญาณรามานมาใช้เป็นเทคนิคมาตรฐานในการตรวจระบุองค์ประกอบและเอกลักษณ์ทางเคมีทั้งภายในห้องปฏิบัติการและการพกพาสำหรับตรวจในภาคสนาม อย่างไรก็ตามการตรวจวัดสัญญาณรามานมีข้อจำกัดสำหรับการวัดสารที่มีปริมาณหรือความเข้มข้นน้อยมากๆ จึงได้เกิดการพัฒนาพื้นผิวขยายสัญญาณรามาน (surface-enhanced Raman spectroscopy: SERS) เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพการขยายสัญญาณรามานดังกล่าวในการตรวจวัดและวิเคราะห์โมเลกุลของสารเคมีได้มากจนถึงระดับที่สามารถตรวจวัดสารตกค้าง (trace) ประเภทต่าง ๆ ได้อย่างแม่นยำมากขึ้น ห้องปฏิบัติการวิจัยเทคโนโลยีฟิล์มบางเชิงแสง (OTL) ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ ได้พัฒนาชิปพื้นผิวขยายสัญญาณรามาน (ONSPEC) ด้วยเทคนิคการเคลือบฟิล์มบางในระบบสุญญากาศได้สำเร็จเป็นต้นแบบภาคสนาม

สรุปเทคโนโลยี
ONSPEC ดำเนินการวิจัยและพัฒนาขึ้นด้วยเทคนิคการเคลือบฟิล์มขั้นสูง โดยพัฒนาฟิล์มบางโครงสร้างนาโนของโลหะเงินที่มีคุณลักษณะเฉพาะตัวสามารถขยายสัญญาณรามานได้อย่างมีประสิทธิภาพ โดยมีค่าอัตราการขยายสัญญาณสูงกว่าผลิตภัณฑ์ประเภทเดียวกันที่มีขายในท้องตลาดกว่า 100 เท่า ในขณะที่มีต้นทุนในการผลิตที่ต่ำกว่า พื้นผิวขยายสัญญาณประกอบด้วยชิปในบรรจุภัณฑ์พร้อมใช้งาน สามารถประยุกต์ใช้ได้กับการตรวจวัดสารตัวอย่างที่มีความเจือจางมากในระดับ trace concentration ซึ่งไม่สามารถตรวจวัดได้ด้วยเทคนิคการตรวจวัดสัญญาณรามานแบบปกติ
จุดเด่นคือ เพิ่มประสิทธิภาพการตรวจวัดเอกลักษณ์ของสารเคมีด้วยเทคนิค Raman Spectroscopy ให้สามารถวัดสัญญาณของสารอินทรีย์และอนินทรีย์ในปริมาณน้อยระดับ trace concentration

สนใจสอบถามข้อมูล
ปกรณ์ สุพานิช
งานวิเคราะห์ตลาดและเทคโนโลยี
ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ (NECTEC)
โทรศัพท์: 025646900 ต่อ 2353
E-mail: pakorn.supanich@nectec.or.th

▲ Back to top