Technology Licensing Office

	ดาวน์โหลดเอกสาร
	นักวิจัย ดร.นพดล นันทวงศ์ และคณะ
	หน่วยงาน ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ
	รูปแบบความร่วมมือที่เสนอ เสาะหาผู้รับอนุญาตใช้สิทธิ
	สถานภาพสิทธิบัตร คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1001000190 ยื่นคำขอวันที่ 5 กุมภาพันธ์ 2553 คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1201001692 ยื่นคำขอวันที่ 12 เมษายน 2555 คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1201002682 ยื่นคำขอวันที่ 7 มิถุนายน 2555 คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1301005400 ยื่นคำขอวันที่ 26 กันยายน 2556 คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1301005227 ยื่นคำขอวันที่ 19 กันยายน 2556 คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1501003965 ยื่นคำขอวันที่ 10 กรกฎาคม 2558 คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1501003964 ยื่นคำขอวันที่ 10 กรกฎาคม 2558 คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1503001194 ยื่นคำขอวันที่ 7 สิงหาคม 2558
	สถานะงานวิจัย ได้ต้นแบบระดับ pilot scale

ที่มา ข้อมูลเบื้องต้น ความสำคัญของปัญหา
การตรวจวัดเอกลักษณ์ของสารเคมีด้วยเทคนิค Raman Spectroscopy นิยมนำเอามาใช้เป็นเทคนิคมาตรฐานในการตรวจระบุองค์ประกอบและเอกลักษณ์ทางเคมีทั้งภายในห้องปฏิบัติการและการพกพาสำหรับตรวจในภาคสนาม อย่างไรก็ตามการตรวจวัดสัญญาณรามานมีข้อจำกัดสำหรับการวัดสารที่มีปริมาณหรือความเข้มข้นน้อยมากๆ

NECTEC SERS Chips ชิปขยายสัญญาณรามาน สามารถเพิ่มประสิทธิภาพการตรวจวัดเอกลักษณ์ของสารเคมีด้วยเทคนิค Raman Spectroscopy ให้สามารถวัดสัญญาณของสารชีวโมเลกุลในปริมาณน้อยระดับ trace concentration

สรุปเทคโนโลยี
ชิปขยายสัญญาณรามาน NECTEC SERS Chips ดำเนินการวิจัยและพัฒนาขึ้นด้วยเทคนิคการเคลือบฟิล์มขั้นสูง โดยพัฒนาฟิล์มบางโครงสร้างนาโนของโลหะเงินที่มีคุณลักษณะเฉพาะตัวสามารถขยายสัญญาณรามานได้อย่างมีประสิทธิภาพ โดยมีค่าอัตราการขยายสัญญาณสูงกว่าผลิตภัณฑ์ประเภทเดียวกันที่มีขายในท้องตลาดกว่า 100 เท่า ในขณะที่มีต้นทุนในการผลิตที่ต่ำกว่า พื้นผิวขยายสัญญาณประกอบด้วยชิปในบรรจุภัณฑ์พร้อมใช้งาน สามารถประยุกต์ใช้ได้กับการตรวจวัดสารตัวอย่างที่มีความเจือจางมากในระดับ trace concentration ซึ่งไม่สามารถตรวจวัดได้ด้วยเทคนิคการตรวจวัดสัญญาณรามานแบบปกติ

สนใจสอบถามข้อมูล
งานธุรกิจทรัพย์สินทางปัญญา สำนักงานจัดการสิทธิเทคโนโลยี (TLO)
โทรศัพท์: 0 2564 7000
E-mail: tlo-ipb@nstda.or.th

▲ Back to top