แสดงข้อมูลเครื่องมือวิทยาศาสตร์ที่ให้บริการของ ศูนย์บริการวิเคราะห์ทดสอบ สวทช. NCTC

      1 / 1   
จำนวนที่พบ  29 รายการ
Clear   Condition :
16695-064-0001-0000648-000เครื่องเตรียมตัวอย่างอัตโนมัติใช้งานปกติ
26695-064-0001-0000647-000เครื่องย่อยสลายตัวอย่างด้วยไมโครเวฟใช้งานปกติ
36695-064-0001-0000644-000ระบบการคายซับด้วยความความร้อนใช้งานปกติ
46695-064-0001-0000643-000เครื่องลิควิดโครมาโตกราฟ-แมสสเปคโตรมิเตอร์ใช้งานปกติ
56695-001-0064-0000021-000X-ray Photoelectron Spectroscopyใช้งานปกติ
66650-007-0005-0000044-000เครื่อง 3D Digital Video Microscopeใช้งานปกติ
76650-007-0005-0000043-000Atomic force microscopeใช้งานปกติ
86650-007-0005-0000042-000High Resolution Raman Microscope Spectrometerใช้งานปกติ
96650-007-0003-0000006-000Transmission electron microscope (TEM)ใช้งานปกติ
106650-007-0002-0000005-000กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดชนิดฟิลด์ใช้งานปกติ
116650-002-0001-0000271-000กล้องจุลทรรศน์ระดับนาโน Nano Searchใช้งานปกติ
126650-002-0001-0000256-000กล้องจุลทรรศน์กำลังขยายสูงพร้อมโปรแกรมวัดใช้งานปกติ
136650-002-0001-0000239-000Scanning Electorn Microscope SU5000ใช้งานปกติ
146650-002-0001-0000204-000กล้องจุลทรรศน์ ยี่ห้อ Hitachi รุ่น SU8030ใช้งานปกติ
156635-015-0001-0000011-000X-ray Diffractometerใช้งานปกติ
166635-015-0001-0000010-000เครื่องวัดการกระเจิงด้วยรังสีเอ็กซ์ใช้งานปกติ
176635-015-0001-0000009-000เครื่อง X-Ray Crystallographyใช้งานปกติ
186630-027-0001-0000220-000Thermogravimetric Analyzerใช้งานปกติ
196630-027-0001-0000217-000Thermomechanical Analyzerใช้งานปกติ
206630-027-0001-0000216-000เครื่องวิเคราะห์ชนิดและปริมาณธาตุใช้งานปกติ
216630-027-0001-0000215-000เครื่องแก๊สโครมาโตกราฟ-แมสสเปคโตรมิเตอร์ใช้งานปกติ
226630-027-0001-0000179-000เครื่องตรวจวิเคราะห์หาชนิดและปริมาณด้วยเทคนิค GCMSใช้งานปกติ
236630-027-0001-0000178-000เครื่องวิเคราะห์ธาตุด้วยรังสีเอ็กซ์เรย์แบบฟลูออเรสใช้งานปกติ
246630-006-0001-0000014-000Differantial Scanning Calorimeterใช้งานปกติ
256625-011-0001-0000109-000เครื่อง Qtrap 6500+ (LC/MS/MS system)ใช้งานปกติ
266625-008-0001-0000118-000UV-VIS-NIR Spectrophotometerใช้งานปกติ
276625-008-0001-0000117-000XRF spectrometer แบบ WLDSใช้งานปกติ
283441-003-0001-0000049-000Precision cut-off machineใช้งานปกติ
293419-006-0001-0000043-000เครื่องขัดตัวอย่างด้วยไอออน(Sample preparation for Ion Milling Machine)ใช้งานปกติ